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电磁干扰要素分析仪

该产品将广泛应⽤于各种电⼦测试领域，如⽆线通信、雷达、微电⼦等领域，可以⽤于性能测试、故障分析及其他相关研究。通过紧凑的结构和集成化设计，将运动控制系统与射频检测主机融合在一起，实现对设备、PCB或芯⽚的电磁性能 的全⽅位监测和分析。

产品描述

产品简介

该产品将广泛应⽤于各种电⼦测试领域，如无线通信、雷达、微电子等领域，可以用于性能测试、故障分析及其他相关研究。通过紧凑的结构和集成化设计，将运动控制系统与射频检测主机融合在⼀起，实现对设备、PCB或芯片的电磁性能的全方位监测和分析。具体功能包括：

(1)  电磁发射近场测试。通过全⾃动的三轴运动控制系统，可以实现高精度的扫描和快速的获取设备、PCB或芯片在射频⼯作状态下的电磁发射特性信息，⽤于评估其电磁兼容性和符合性，节省了时间和人力成本。

(2) 要素分析。对设备、PCB或芯片的上不同元器件和电路的电磁特性进⾏分析，实现对方波、正弦波⼲扰类型的提取识 别潜在的⼲扰源或信号强度异常，优化电路布局和设计。

(3) 电磁成像。利用时域示波器模块和频谱分析仪模块，实时监测和记录设备、PCB或芯片上的时域信号和频域信号，帮助⼯程师深入了解电磁性能，并进行相应的优化。

EMI要素分析模块可利⽤三维扫描台架及近场电场、磁场探头对设备进行近场电磁发射测试，并具备自动扫描、电磁成像、干扰要素分析等功能。EMI要素分析仪使⽤独⽴的要素测试分析软件，可按照设置参数，⾃动控制扫描架运动，并进行近场电磁发射测试。测试结果可按频率进行二维电磁成像，通过图形⽅式反映电路板电磁发射情况，并可针对某⼀个位置的频谱进行电磁要素分析，为电磁⼲扰分析提参考。

 

 

 

 

 

应用场景

  • 微电子领域：在微电⼦器件（如芯片、PCB等）的研发和⽣产过程中，要素分析仪可⽤于分析器件的电磁特性，识别潜在的干扰源或信号强度异常，优化电路布局和设计，提高产品的可靠性和性能。
  • 电磁兼容性（EMC）测试：要素分析仪是电磁兼容性测试的重要⼯具，可⽤于评估设备在电磁环境中的表现，确保设备在正常⼯作状态下不会对其他设备产生干扰，同时也不会受到其他设备的干扰。
  • 故障诊断与分析：在电子设备出现故障时，要素分析仪可⽤于快速定位故障源，分析故障原因，为故障修复提供有力⽀持。
  • 科研与教育：在电子⼯程、电磁学等相关学科的科研和教育领域，要素分析仪可用于实验教学、科研实验等，帮助学生和科研人员深入了解电磁性能，掌握相关测试技术。

 

更多产品信息见产品手册。

 

 

 

 

>>电子版产品手册下载：《电磁干扰要素分析仪》

 

 

 

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